HOME > 口頭発表 > 書誌詳細(Ferroelectric domain engineering using scanning probe microscopy)寺部 一弥, リウ シャオヤン, 北村 健二. 6th International Conference on Intelligent Materials and System. 2005年07月04日-2005年07月06日.NIMS著者寺部 一弥Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-02-14 10:54:03 +0900更新時刻: 2017-07-10 19:22:18 +0900