HOME > 口頭発表 > 書誌詳細Non Destructive Evaluation Using High-Tc SQUID for Detecting Defects below a Metal Layer何 東風, 立木 実, 糸崎 秀夫. 21st International Symposium on Superconductivity (ISS2008). 2008.NIMS著者何 東風立木 実Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-01-08 04:00:32 +0900更新時刻: 2017-07-10 20:21:20 +0900