HOME > 口頭発表 > 書誌詳細パルスジェット法と組合わせた低速He+イオン散乱分光によるZnO表面のエタノールセンシングに関する分析(He+ LEIS analysis combined with pulsed jet technique of ethanol sensing by a ZnO surface)鈴木 拓, 安達 裕, 大垣 武, 坂口 勲. 2020年日本表面真空学会学術講演会. 2020年11月19日-2020年11月21日.NIMS著者鈴木 拓安達 裕大垣 武坂口 勲Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2020-12-18 03:00:18 +0900更新時刻: 2020-12-18 03:00:18 +0900