SAMURAI - NIMS Researchers Database

HOME > 口頭発表 > 詳細

口頭発表の表示

著者名AGEMURA, Toshihide, IWAI, Hideo, SEKIGUCHI, Takashi.
タイトルLow energy secondary electron imaging of pn junctions in Si and GaN using fountain detector
会議名Microscopy of Semiconducting Materials (MSM-XX)
発表年2017
言語English
外部での文献参照

▲ページトップへ移動