HOME > 口頭発表 > 書誌詳細2探針STMによる電気測定:単一およびバンドルした単層CNTの比較(Electrical measurements by double-scanning-probe tunneling microscope: Isolated and bundled single-wall CNTs)久保 理, 新ヶ谷 義隆, 中山 知信, 富本 博之, 青野 正和. 第53回応用物理学関係連合講演会. 2006.NIMS著者新ヶ谷 義隆中山 知信青野 正和Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-02-14 11:37:10 +0900更新時刻: 2018-05-30 19:42:24 +0900