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Study on magnetoresistance and carrier localization in graphene with defects induced by helium ion microscopy

著者IWASAKI, Takuya, 中村 周, 赤堀 誠志, マノハラン ムルガナタン, 小川 真一, 守田 佳史, MORIYAMA, Satoshi, NAKAHARAI, Shu, 水田 博, WAKAYAMA, Yutaka.
会議名第66回応用物理学会春季学術講演会
発表年2019
言語English

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