Study on magnetoresistance and carrier localization in graphene with defects induced by helium ion microscopy
第66回応用物理学会春季学術講演会. 2019年03月09日-2019年03月12日. 招待講演
NIMS著者
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作成時刻: 2020-01-09 03:00:25 +0900更新時刻: 2024-03-05 12:21:19 +0900