HOME > 口頭発表 > 書誌詳細(Low Temperature Scanning Tunneling Microscopy on a p-type Si(100) Surface)鷺坂 恵介, 北原 昌代, 藤田 大介, 木戸 義勇, 小口 信行. The 9th International Symposium on Advanced Physical Fields (APF. 2004.NIMS著者鷺坂 恵介藤田 大介Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻 :2017-02-22 22:44:46 +0900 更新時刻 :2017-07-10 18:56:01 +0900