(Low Temperature Scanning Tunneling Microscopy on a p-type Si(100) Surface)
The 9th International Symposium on Advanced Physical Fields (APF. 2004年03月01日-2004年03月04日.
NIMS著者
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作成時刻: 2017-02-22 22:44:46 +0900 更新時刻: 2017-07-10 18:56:01 +0900