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オペランド顕微分光法を用いたGaN-HEMTにおける電流コラプス現象の機構解明(Ⅰ)
(Elucidating the mechanism of current collapse in GaN-HEMT using the operando microspectroscopy (Ⅰ))

大美賀 圭一, 舘野 泰範, 河内 剛志, 駒谷 務, 永村 直佳, 今野 隼, 小嗣 真人, 堀場 弘司, 尾嶋 正治, 末光 眞希, 吹留 博一.
第77回応用物理学会秋季学術講演会. 2016.

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    作成時刻 :2017-01-08 03:55:13 +0900 更新時刻 :2018-05-21 22:04:19 +0900

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