オペランド顕微分光法を用いたGaN-HEMTにおける電流コラプス現象の機構解明(Ⅰ)
(Elucidating the mechanism of current collapse in GaN-HEMT using the operando microspectroscopy (Ⅰ))
第77回応用物理学会秋季学術講演会. 2016年09月13日-2016年09月16日.
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作成時刻: 2017-01-08 03:55:13 +0900更新時刻: 2018-05-21 22:04:19 +0900