HOME > 口頭発表 > 書誌詳細二次イオン質量分析装置を用いた酸素注入GaNの酸素,窒素分析(Independent analysis of oxygen and nitrogen in oxygen implanted GaN using secondary ion mass spectrometry)橋口 未奈子, 坂口 勲, 安達 裕, 大橋 直樹. 第34回エレクトロセラミックス研究討論会. 2014.NIMS著者坂口 勲安達 裕大橋 直樹Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-01-08 04:32:24 +0900更新時刻: 2017-07-10 21:59:58 +0900