放射光を活用したデバイス表面・界面オペランドイメージング分析
(Surface and interface operando spectral imaging analysis of device structures using synchrotron X-rays)
電気学会 電子材料研究会主催研究会 「フレキシブル素子応用に向けた新規薄膜電子材料の合成と評価」. 2021年11月18日-2021年11月19日. 招待講演
NIMS著者
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作成時刻: 2022-01-26 10:06:46 +0900更新時刻: 2024-03-05 12:21:52 +0900