HOME > Presentation > Detail放射光を活用したデバイス表面・界面オペランドイメージング分析(Surface and interface operando spectral imaging analysis of device structures using synchrotron X-rays)永村 直佳. 電気学会 電子材料研究会主催研究会 「フレキシブル素子応用に向けた新規薄膜電子材料の合成と評価」. November 18, 2021-November 19, 2021. InvitedNIMS author(s)NAGAMURA, NaokaFulltext and dataset(s) on Materials Data Repository (MDR)Created at: 2022-01-26 10:06:46 +0900Updated at: 2024-03-05 12:21:52 +0900