XPSにおける広角対応の平均脱出深さの経験式
(Empirical equation of mean escape depths for wide-emission-angle X-ray photoelectron spectroscopy)
7th International Symposium on Pracical Surface Analysis (PSA16). 2016年10月16日-2016年10月21日.
NIMS著者
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作成時刻: 2017-02-14 11:00:25 +0900 更新時刻: 2017-07-10 22:27:52 +0900