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Scanning SQUID Microscopy as a tool for investigation of Superconducting Thin Films

著者有沢 俊一, ユン キョンソン, 井口 家成, 羽多野 毅, Kazuhiro Endo, Tamio Endo.
会議名IUMRS-ICA2014
発表年2014
言語Japanese

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