HOME > 口頭発表 > 書誌詳細(Bias-dependence of spectral photo-response of metal-semiconductor-metal structures on diamond)アルバレッツ ホセ アントニオ, 廖 梅勇, 小出 康夫. The 23rd International Conference on Defects in Semiconductors. 2005年07月23日-2005年07月29日.NIMS著者廖 梅勇小出 康夫Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-02-14 11:07:35 +0900更新時刻: 2017-07-10 19:22:55 +0900