HOME > 口頭発表 > 書誌詳細(Electrical conductivity of nanowires measured by multiprobe scanning tunneling microscopy)中山 知信, 久保 理, 新ヶ谷 義隆, 青野 正和. International workshop on smart interconnects. 2003年11月06日-2003年11月08日. 招待講演NIMS著者新ヶ谷 義隆青野 正和Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-02-14 11:06:26 +0900 更新時刻: 2024-03-05 11:39:58 +0900