HOME > 口頭発表 > 書誌詳細Atomprobe Analysis of Nanoscale Voids in p-type ZnO Nanowires埋橋 淳, プラデル チャールズ ケン, 大久保 忠勝, 深田 直樹, 宝野 和博. Atom Probe Tomography and Microscopy (APT&M) 2018. 2018.NIMS著者埋橋 淳大久保 忠勝深田 直樹宝野 和博Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2018-04-17 22:22:27 +0900更新時刻: 2018-06-05 14:19:49 +0900