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NIMS一般公開2024

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Fine Structure Analysis of High Temperature Heat Treated SUSXM15J1 Using FIB-SEM Tomography.

Minoru Ochi, Ryo Teranishi, Yukio Sato, Junichi Hamada, Chikako Takushima, 原 徹, Kenji Kaneko.
日本顕微鏡学会 第60回記念シンポジウム. 2017年12月01日-2017年12月02日.

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    作成時刻: 2017-12-02 22:20:42 +0900更新時刻: 2018-06-05 14:15:51 +0900

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