HOME > 口頭発表 > 書誌詳細Fine Structure Analysis of High Temperature Heat Treated SUSXM15J1 Using FIB-SEM Tomography.Minoru Ochi, Ryo Teranishi, Yukio Sato, Junichi Hamada, Chikako Takushima, 原 徹, Kenji Kaneko. 日本顕微鏡学会 第60回記念シンポジウム. 2017.NIMS著者原 徹Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-12-02 22:20:42 +0900更新時刻: 2018-06-05 14:15:51 +0900