HOME > 口頭発表 > 書誌詳細酸化亜鉛中の点欠陥の評価(Characterization of point defects in ZnO)大橋 直樹, 坂口 勲, 安達 裕, 両見 春樹, 大澤 健男, 上田 茂典, 吉川 英樹, 羽田 肇, 小林 啓介. 平成19年度金研ワークショップ 「酸化亜鉛半導体テクノロジーの進歩. 2007年12月20日-2007年12月21日. 招待講演NIMS著者大橋 直樹坂口 勲安達 裕大澤 健男上田 茂典吉川 英樹羽田 肇Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-01-08 05:17:48 +0900更新時刻: 2024-03-05 11:41:44 +0900