HOME > 口頭発表 > 書誌詳細酸化亜鉛中の点欠陥の評価(Characterization of point defects in ZnO)大橋 直樹, 坂口 勲, 安達 裕, 両見 春樹, 大澤 健男, 上田 茂典, 吉川 英樹, 羽田 肇, 小林 啓介. 平成19年度金研ワークショップ 「酸化亜鉛半導体テクノロジーの進歩. 2007. 招待講演NIMS著者大橋 直樹坂口 勲安達 裕大澤 健男上田 茂典吉川 英樹羽田 肇Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-01-08 05:17:48 +0900更新時刻: 2024-03-05 11:41:44 +0900