Photoelectron Spectroscopic Study on High-k Dielectrics Based Nanoionics-Type ReRAM Structure under Bias Operation
the 225th ECS Meeting. 2014年05月11日-2014年05月16日. 招待講演
NIMS著者
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作成時刻: 2022-09-05 14:12:34 +0900更新時刻: 2024-03-05 11:44:59 +0900