HOME > 口頭発表 > 書誌詳細導電性AFMによるWSe2の点欠陥選択的イメージング下村 侑生, 澤井 悠太, 榊原 涼太郎, 渡邊 賢司, 谷口 尚, 吉田 昭二, 宮田 耕充. シリコン材料・デバイス研究会（SDM）. 2026-06-29. 招待講演NIMS著者榊原 涼太郎渡邊 賢司谷口 尚宮田 耕充Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2026-10-28 03:07:21 +0900 更新時刻: 2026-10-28 03:07:21 +0900
