HOME > 口頭発表 > 書誌詳細Atomic structure analysis of W-doped ZnO thin film (000-1) by photoelectron diffraction深見駿, 安達 裕, 坂口 勲, 渡邉賢, 室隆桂之, 松下智裕, 田口宗孝, 松井文彦, 大門寛, 鈴木 拓. VUVX2016. 2016.NIMS著者安達 裕坂口 勲鈴木 拓Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-02-14 11:42:31 +0900更新時刻: 2017-07-10 22:28:53 +0900
