HOME > 口頭発表 > 詳細Characterization of buried metal/GaN interfaces著者ゲラッハ ドミニク, 松田 朝彦, 長田 貴弘, 上田 茂典, Regan Wilks , Marcus Bär, 知京 豊裕. 会議名16th International Conference on the Formation of Semiconductor 発表年2017言語Japanese
