HOME > 口頭発表 > 書誌詳細2探針走査トンネル顕微鏡によるナノワイヤの電気伝導測定久保 理, 新ヶ谷 義隆, 中山 知信, 富本 博之, 青野 正和. 第44回茅コンファレンス. 2006年09月08日-2006年09月11日.NIMS著者新ヶ谷 義隆青野 正和Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-02-14 10:53:11 +0900 更新時刻: 2017-07-10 19:44:30 +0900
