HOME > Presentation > Detail2探針走査トンネル顕微鏡によるナノワイヤの電気伝導測定久保 理, 新ヶ谷 義隆, 中山 知信, 富本 博之, 青野 正和. 第44回茅コンファレンス. September 08, 2006-September 11, 2006.NIMS author(s)SHINGAYA, YoshitakaNAKAYAMA, TomonobuAONO, MasakazuFulltext and dataset(s) on Materials Data Repository (MDR)Created at: 2017-02-14 10:53:11 +0900Updated at: 2017-07-10 19:44:30 +0900