HOME > 口頭発表 > 書誌詳細(Thickness Identification and Electronic Transport in Atomically Thin MoS2 Layers)黎 松林, 塚越 一仁. TNTJapan2014 International Conference. 2014年01月29日-2014年01月31日.NIMS著者塚越 一仁Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-02-14 10:51:07 +0900更新時刻: 2018-06-05 13:31:08 +0900