Gap States at SiO2/4H-SiC interface obtained from Oprando Hard X-ray Photoelectron Spectroscopy
THE 9th INTERNATIONAL CONFERENCE ON HARD X-Ray PHOTOELECTRON SPECTROSCOPY. 2022年05月31日-2022年06月03日.
NIMS著者
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作成時刻: 2023-01-14 03:33:11 +0900 更新時刻: 2023-01-14 03:33:11 +0900