SAMURAI - NIMS Researchers Database

HOME > 口頭発表 > 詳細

放射光X線ナノCTによる電子デバイスの信頼性解析:MLCCの電極構造形成プロセス

著者大熊 学, 齋藤 直哉, 水野 高太郎, 若井 史博.
会議名日本金属学会 2021年秋期(第169回)講演大会 https://confit.atlas.jp/guide/event/jim2021autumn/top?lang=ja
発表年2021
言語Japanese

▲ページトップへ移動