HOME > Presentation > Detail放射光X線ナノCTによる電子デバイスの信頼性解析:MLCCの電極構造形成プロセス大熊 学, 齋藤 直哉, 水野 高太郎, 若井 史博. 日本金属学会 2021年秋期(第169回)講演大会 https://confit.atlas.jp/guide/event/jim2021autumn/top?lang=ja. 2021.NIMS author(s)OKUMA, GakuFulltext and dataset(s) on Materials Data Repository (MDR)Created at: 2022-01-10 03:08:20 +0900Updated at: 2022-01-10 03:08:20 +0900