HOME > 口頭発表 > 書誌詳細Scanning confocal electron microscopy (SCEM) using 4D-dataset acquisition竹口 雅樹, 濱岡 巧, 三石 和貴, 橋本 綾子. ALC. 2017.NIMS著者竹口 雅樹三石 和貴橋本 綾子Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-12-16 22:06:10 +0900更新時刻: 2018-06-05 14:16:17 +0900