HOME > 口頭発表 > 書誌詳細カソードルミネッセンスによるm面GaNの積層欠陥に関する評価(Cathodoluminescence study on the stacking faults of m-plane GaN)イ ウェイ, 陳 君, 関口 隆史, 伊藤俊. 第65回応用物理学会春季学術講演会. 2018.NIMS著者イ ウェイ陳 君Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2018-03-15 22:37:43 +0900更新時刻: 2018-06-05 14:19:03 +0900