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著者名今村真幸, 中村純, 藤正修司, 保田英洋, 上田 茂典, 山下 良之, 吉川 英樹, 小林 啓介.
タイトル硬X線光電子分光による有機分子表面修飾Siナノ粒子の電子状態の研究
(Electronic structures of Molecule-Passivated Si nanoparticles by hard X-ray photoemission spectroscopy )
会議名日本物理学会 2009年秋季大会
発表年2009
言語Japanese
外部での文献参照

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