HOME > 口頭発表 > 書誌詳細HfO2 膜へのTaOx キャップ層形成による各界面層の変化(Modification of each interface in TaOx-cap/HfO2/SiO2 stack structure)岩下 祐太, 生田目 俊秀, 佐藤 岳志, 松本 弘昭, 小椋 厚志, 知京 豊裕. 2010年春季 第57回 応用物理学関係連合講演会. 2010.NIMS著者生田目 俊秀知京 豊裕Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2018-09-27 10:22:58 +0900更新時刻: 2018-09-27 10:22:58 +0900