Characterization of mid-gap defect level in ZnO by high resolution X-ray photoelectron spectroscopy using synchrotron orbital ra
MRS 2007 Fall meetirng. 2007年11月26日-2007年11月30日.
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作成時刻: 2017-01-08 04:54:11 +0900更新時刻: 2017-07-10 20:01:57 +0900