HOME > 口頭発表 > 書誌詳細Characterization of mid-gap defect level in ZnO by high resolution X-ray photoelectron spectroscopy using synchrotron orbital ra大橋 直樹, 安達 裕, 大澤 健男, 坂口 勲, 両見 春樹, 吉川 英樹, 上田 茂典, 羽田 肇, 小林 啓介. MRS 2007 Fall meetirng. 2007.NIMS著者大橋 直樹安達 裕大澤 健男坂口 勲吉川 英樹上田 茂典羽田 肇Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-01-08 04:54:11 +0900更新時刻: 2017-07-10 20:01:57 +0900