HOME > 口頭発表 > 書誌詳細放射光硬X線光電子分光法によるPtOx/Nb:SrTiO3接合の電子状態評価(Hard x-ray photoemission spectroscopic investigation of PtOx/Nb:SrTiO3 Schottky junctions)廣瀬 左京, 吉川 英樹, 上田 茂典, 古田 朋大, 安藤陽, 大橋 直樹. 第60回 応用物理学関係連合講演会 . 2013年03月27日-2013年03月30日.NIMS著者吉川 英樹上田 茂典大橋 直樹Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-02-14 11:04:27 +0900更新時刻: 2017-07-10 21:35:32 +0900