HOME > Presentation > Detail放射光硬X線光電子分光法によるPtOx/Nb:SrTiO3接合の電子状態評価(Hard x-ray photoemission spectroscopic investigation of PtOx/Nb:SrTiO3 Schottky junctions)廣瀬 左京, 吉川 英樹, 上田 茂典, 古田 朋大, 安藤陽, 大橋 直樹. 第60回 応用物理学関係連合講演会 . March 27, 2013-March 30, 2013.NIMS author(s)YOSHIKAWA, HidekiUEDA, ShigenoriOHASHI, NaokiFulltext and dataset(s) on Materials Data Repository (MDR)Created at: 2017-02-14 11:04:27 +0900Updated at: 2017-07-10 21:35:32 +0900