HOME > 口頭発表 > 書誌詳細Depth-Sectioned imaging by Annular Dark Field Confocal Scanning Transmission Electron Microscopy竹口 雅樹, 橋本 綾子, 三石 和貴, 下条 雅幸. The 12th Frontiers of Electron Microscopy in Materials Science. 2009年09月27日-2009年10月02日.NIMS著者竹口 雅樹橋本 綾子三石 和貴Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-02-14 11:26:04 +0900 更新時刻: 2017-07-10 20:35:53 +0900