HOME > 口頭発表 > 書誌詳細Depth-Sectioned imaging by Annular Dark Field Confocal Scanning Transmission Electron Microscopy竹口 雅樹, 橋本 綾子, 三石 和貴, 下条 雅幸. The 12th Frontiers of Electron Microscopy in Materials Science. 2009.NIMS著者竹口 雅樹橋本 綾子三石 和貴Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-02-14 11:26:04 +0900更新時刻: 2017-07-10 20:35:53 +0900