HOME > 口頭発表 > 書誌詳細ルツ鉱型ワイドギャップ半導体中の欠陥の挙動大橋 直樹, 坂口 勲, 安達 裕, 大垣 武, 羽田 肇. 励起ナノプロセス研究会 第6回研究会. 2010年11月02日-2010年11月03日. 招待講演NIMS著者大橋 直樹坂口 勲安達 裕大垣 武羽田 肇Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-01-08 05:39:06 +0900更新時刻: 2024-03-05 11:43:11 +0900
