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ルツ鉱型ワイドギャップ半導体中の欠陥の挙動

大橋 直樹, 坂口 勲, 安達 裕, 大垣 武, 羽田 肇.
励起ナノプロセス研究会 第6回研究会. 2010. Invited

NIMS author(s)

Fulltext and dataset(s) on Materials Data Repository (MDR)

    Created at: 2017-01-08 05:39:06 +0900Updated at: 2024-03-05 11:43:11 +0900

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