放射光軟X線分光によるグリーンデバイスのナノ表界面電子状態評価に関する研究
(Spectroscopic study of nano-scale surface/interface electronic states in Green devices using synchrotron soft X-rays)
2020年日本表面真空学会学術講演会. 2020. 招待講演
NIMS著者
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作成時刻: 2022-01-12 03:00:39 +0900更新時刻: 2024-03-05 12:21:52 +0900