HOME > Presentation > Detail放射光軟X線分光によるグリーンデバイスのナノ表界面電子状態評価に関する研究(Spectroscopic study of nano-scale surface/interface electronic states in Green devices using synchrotron soft X-rays)永村 直佳. 2020年日本表面真空学会学術講演会. November 19, 2020-November 21, 2020. InvitedNIMS author(s)NAGAMURA, NaokaFulltext and dataset(s) on Materials Data Repository (MDR)Created at: 2022-01-12 03:00:39 +0900Updated at: 2024-03-05 12:21:52 +0900