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NIMS Award Symposium 2026

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InGaAs 2次元電子ガス2層系における「指紋」としての分数プラトーの痕跡
(Traces of fractional plateaus in InGaAs 2DEG bilayer as a fingerprint)

山田省二, 藤元章, 日高志郎, 赤堀誠志, 今中 康貴, 竹端 寛治.
日本物理学会第73回年次大会. March 22, 2018-March 25, 2018.

NIMS author(s)


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    Created at: 2018-02-28 22:25:26 +0900 Updated at: 2018-06-05 14:18:35 +0900

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