HOME > Presentation > DetailInGaAs 2次元電子ガス2層系における「指紋」としての分数プラトーの痕跡(Traces of fractional plateaus in InGaAs 2DEG bilayer as a fingerprint)山田省二, 藤元章, 日高志郎, 赤堀誠志, 今中 康貴, 竹端 寛治. 日本物理学会第73回年次大会. March 22, 2018-March 25, 2018.NIMS author(s)IMANAKA, YasutakaTAKEHANA, KanjiFulltext and dataset(s) on Materials Data Repository (MDR)Created at: 2018-02-28 22:25:26 +0900 Updated at: 2018-06-05 14:18:35 +0900