InGaAs 2次元電子ガス2層系における「指紋」としての分数プラトーの痕跡
(Traces of fractional plateaus in InGaAs 2DEG bilayer as a fingerprint)
日本物理学会第73回年次大会. 2018年03月22日-2018年03月25日.
NIMS著者
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作成時刻: 2018-02-28 22:25:26 +0900更新時刻: 2018-06-05 14:18:35 +0900