HOME > 口頭発表 > 書誌詳細微細加工したAl薄膜試料の電流-電圧特性(I-V characteristic in nanoscale aluminum structures)榎本 健悟, 寺井慶和, 矢ヶ部 太郎, 安塚周磨, 鈴木 博之, 寺嶋 太一, 鴻池 貴子, 西村 光佳, 宇治 進也. 日本物理学会第59回年次大会. 2004年03月27日-2004年03月30日.NIMS著者矢ヶ部 太郎寺嶋 太一鴻池 貴子宇治 進也Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-01-08 03:16:55 +0900更新時刻: 2018-05-30 19:14:35 +0900