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著者名榎本 健悟, 寺井慶和, 矢ヶ部 太郎, 安塚周磨, 鈴木 博之, 寺嶋 太一, 鴻池 貴子, 西村 光佳, 宇治 進也.
タイトル微細加工したAl薄膜試料の電流−電圧特性
(I-V characteristic in nanoscale aluminum structures)
会議名日本物理学会第59回年次大会
発表年2004
言語Japanese
外部での文献参照

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