HOME > 口頭発表 > 書誌詳細4D-Scanning confocal electron microscopy (SCEM)の開発(Development of 4D-Scanning confocal electron microscopy (SCEM))竹口 雅樹, 濱岡 巧, 橋本 綾子, 三石 和貴. 日本顕微鏡学会第74回学術講演会. 2018.NIMS著者竹口 雅樹橋本 綾子三石 和貴Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2018-06-05 14:20:40 +0900更新時刻: 2018-06-05 14:20:40 +0900