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Electron-beam-induced Current Study of Dislocations and Leakage Sites in GaN Schottky Barrier Diodes

CHEN, Jun, YI, Wei, KIMURA, Takashi, SEKIGUCHI, Takashi, Ryo TANAKA, Shinya TAKASHIMA, Masaharu EDO.
DRIP XVIII. 2019.

NIMS著者


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    作成時刻 :2019-09-20 03:00:21 +0900 更新時刻 :2019-09-20 03:00:21 +0900

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