ダイヤモンドPiN接合のEBIC評価
(Characterization of defects on diamond PiN junction by electron beam induced current)
第65回応用物理学会春季学術講演会. 2018年03月17日-2018年03月20日.
NIMS著者
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作成時刻: 2018-02-01 22:20:06 +0900 更新時刻: 2018-06-05 14:17:41 +0900