HOME > 口頭発表 > 書誌詳細ダイヤモンドPiN接合のEBIC評価(Characterization of defects on diamond PiN junction by electron beam induced current)梅沢仁, 嶋岡 毅紘, 小泉 聡, Etienne GHEERAERT, Fabrice DONATINI, 牧野 俊晴, 杢野 由明. 第65回応用物理学会春季学術講演会. 2018.NIMS著者小泉 聡Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻 :2018-02-01 22:20:06 +0900 更新時刻 :2018-06-05 14:17:41 +0900