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ダイヤモンドPiN接合のEBIC評価
(Characterization of defects on diamond PiN junction by electron beam induced current)

梅沢仁, 嶋岡 毅紘, 小泉 聡, Etienne GHEERAERT, Fabrice DONATINI, 牧野 俊晴, 杢野 由明.
第65回応用物理学会春季学術講演会. 2018.

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    作成時刻 :2018-02-01 22:20:06 +0900 更新時刻 :2018-06-05 14:17:41 +0900

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