HOME > 口頭発表 > 書誌詳細VLS法により成長したSiナノワイヤの構造評価 (Structural Characterization of Si Nanowires Grown by Vapor-Liquid-Solid Method)北澤 佑記, 堀口 竜麻, 小平 竜太郎, JEVASUWAN Wipakorn, FUKATA Naoki, 原 真二郎. The 66th Spring Meeting 2019. 2019.NIMS著者ジェバスワン ウイパコーン深田 直樹Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻 :2020-01-07 03:00:29 +0900 更新時刻 :2020-01-07 03:00:29 +0900