HOME > 口頭発表 > 書誌詳細Nanoscale Electrical Transport Measurement by Multiple-Scanning-Probe Microscopes久保 理, 新ヶ谷 義隆, 青野 正和, 中山 知信. MANA International Symposium 2009. 2009. 招待講演NIMS著者新ヶ谷 義隆青野 正和中山 知信Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-01-08 04:48:37 +0900更新時刻: 2024-03-05 11:42:20 +0900