Operando Raman imaging analysis of atomic layer devices with micro-four-point probes
15th International Symposium on Atomic Level Characterizations for New Materials and Devices '24 (ALC'24). 2024年11月17日-2024年11月22日.
NIMS著者
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作成時刻: 2024-11-30 03:17:44 +0900更新時刻: 2024-11-30 03:17:44 +0900