HOME > 口頭発表 > 書誌詳細(De Haas-van Alphen Effect Measurements under High Pressure -Application to CeRhSi3 )寺嶋 太一, 松本 武彦, 宇治 進也, N. Kimura, H. Aoki. Yamada Conference LX RHMF2006. 2006.NIMS著者寺嶋 太一宇治 進也Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻 :2017-01-08 04:14:09 +0900 更新時刻 :2018-05-21 19:52:01 +0900