X線光電子分光法によるシリコン酸化物系薄膜負極のオペランド反応解析
(Electrochemical Lithiation/Delithiation of a SiOx Thin-Film Electrode using Operando X-ray Photoelectron Spectroscopy)
2025電気化学秋季大会. 2025年09月04日-2025年09月05日.
NIMS著者
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作成時刻: 2025-12-17 03:14:21 +0900 更新時刻: 2025-12-17 03:14:21 +0900